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可(kě)靠性试验中寿命与应力模型的广泛用(yòng)途
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可(kě)靠性试验中寿命与应力模型的广泛用(yòng)途:
    寿命与应力模型广泛应用(yòng)于各种可(kě)靠性试验中,尤其对元 器件、介质材料的寿命试验。下面举例说明其应用(yòng)情况:
(1)阿列尼乌斯模型的应用(yòng)
    这个模型广泛地应用(yòng)于電(diàn)子元器件等的加速寿命试验中, 例如,对显象管进行加速寿命试验,通过提高灯丝電(diàn)压,从而 提高阴极的温度,得出寿命的对数与温度的倒数符合直線(xiàn)关 系,其规律性能(néng)很(hěn)好地由阿列尼乌斯模型来描述。如果工艺条 件成熟,管内的真空度保持良好,则显象管的寿命决定于阴极 的寿命。如果阴极处于良好的激活状态下,则在整个寿命过程 中,其盈余钡的损耗量与生成量应保持平衡,当这平衡被破坏 后,阴极寿命便告终。图卜13是显象管的灯丝電(diàn)压為(wèi)7V、 7.5V、8V (明极温度相应為(wèi) 1145K、1202.5K、123J.5K)下 进行加速寿命试验的结果。利用(yòng)阿列尼乌斯模型描述显象管加 速寿命试验,其外推值与在正常条件下进行寿命试验的结果相 比,误差仅在2%以内。.
表1-5是显象管的加速试验结果与常温条件下试验结果的
比较。
(2)爱林模型的应用(yòng)
    半导體(tǐ)器件的芯片是通过金丝或铝丝互连而引出的。如果半导體(tǐ)器件是在高温高湿下工作,则A卜Au或A1-A1的接触点 极易剥离;或在潮湿的环境中,由于腐蚀而产生开路、短路、 漏電(diàn)流增加等失效。其机理(lǐ)是由于在接点处沾上了不洁物(wù)而形 成電(diàn)位分(fēn)布,从而产生了電(diàn)化學(xué)反应。对这种電(diàn)化學(xué)反应与产 品寿命的关系,可(kě)以通过爱林模型来描述。
(3)-5次方10度法则的应用(yòng)
 应用(yòng)这个法则的例子很(hěn)多(duō)。

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