恒温恒湿试验箱投光灯的结构与性能(néng)研究：

恒温恒湿试验箱投光灯的结构与性能(néng)研究大功率恒温恒湿试验箱恒温恒湿试验箱主要由以下几个部分(fēn)组成:半导體(tǐ)光源器件、封装基板、驱动電(diàn)源和恒温恒湿试验箱散热结构。

光源器件分(fēn)析：

两种恒温恒湿试验箱恒温恒湿试验箱芯片采用(yòng)美國(guó)某公司生产的大功率发光二极管做光源，根据在环境温度100 e下、工作1 000 h进行加速寿命试验的结果，1W恒温恒湿试验箱加速寿命试验500 h光衰减為(wèi)9%。

封装基板分(fēn)析：

功率型恒温恒湿试验箱封装基板作為(wèi)热与空气对流的载體(tǐ)，其热导率对恒温恒湿试验箱的散热起着决定性作用(yòng)。选择合适的基板，对恒温恒湿试验箱的散热性和可(kě)靠性具有(yǒu)重要影响。功率型恒温恒湿试验箱封装基板材料要求具有(yǒu)高電(diàn)绝缘性、高稳定性、高导热性及与芯片匹配的热膨胀系数、平整性和较高的强度。

驱动電(diàn)源分(fēn)析：

驱动電(diàn)源的设计必须要综合考虑各种因数，如效率转换、有(yǒu)效功率、恒流精度、電(diàn)源寿命、電(diàn)磁兼容等。是特性敏感的半导體(tǐ)器件，又(yòu)具有(yǒu)负温度特性，因而在应用(yòng)过程中需要对其进行稳定工作状态和保护。

散热系统分(fēn)析：

的光源特性决定了其对温度的特殊要求，散热能(néng)力是一个相当重要的考核指标，通常通过散热的结构封装技术及散热装置设计来保障最佳的光亮度及延長(cháng)其无故障工作时间。恒温恒湿试验箱投光灯高温老化光電(diàn)性能(néng)测试过程：

随着发光二极管(恒温恒湿试验箱)应用(yòng)范围的扩大，对大功率恒温恒湿试验箱恒温恒湿试验箱的性能(néng)有(yǒu)了更高的要求，对恒温恒湿试验箱光、色、電(diàn)参数的测量也提出了更高的要求，如:亮度高低、波長(cháng)的一致性、抗静電(diàn)能(néng)力强弱、漏電(diàn)電(diàn)流的大小(xiǎo)等。

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