轻便型β厚仪根据氪射線(xiàn)穿过薄膜材料时的减弱规律，利用(yòng)数字和模拟電(diàn)路进行运算，显示薄膜厚度。这种测厚仪可(kě)广泛应用(yòng)于薄膜、纸张、橡胶、织物(wù)等材料的厚度测量，是非接触式测量仪表。与光電(diàn)、電(diàn)容、经外等测厚仪相比，有(yǒu)许多(duō)优点：體(tǐ)积小(xiǎo)，耗電(diàn)省，可(kě)交直流供電(diàn)，便于携带使用(yòng)，而且适于在各种不良环境下工作，对各种色彩、花(huā)纹及复合材料均可(kě)有(yǒu)效使用(yòng)。

该仪器备有(yǒu)台式、叉式和反射式三种探头供用(yòng)户选用(yòng)，既可(kě)用(yòng)于质管部门实验室测试，又(yòu)可(kě)用(yòng)于各种生产现场在線(xiàn)连续监测。主要技术指标：

测厚范围：

量程一：5 g/m2-200g/m2（密度為(wèi)1g/m3的薄膜相当于5μm-200μm）；

量程二：30 g/m2-1000g/m2（密度為(wèi)1g/m3的薄膜相当于30μm-1mm）；

测厚精度：厚度≤20 g/m2时為(wèi)±1g/m2 ，厚度＞20 g/m2时為(wèi)±5％。http://www.zhenghangsy.net