复合绝缘子由于其优秀的防污闪特性被越来越多(duō)地应用(yòng)于電(diàn)力系统中，良好的生产质量是复合绝缘子能(néng)够長(cháng)期安全运行的首要条件，在制造过程中，不允许在复合绝缘子中含有(yǒu)内部缺陷，例如裂隙、脱粘等。一旦复合绝缘子含有(yǒu)内部缺陷，将很(hěn)容易出现老化过程，例如局部放電(diàn)、护套闪络等。

目前，关于内部缺陷对老化过程的影响尚没有(yǒu)一个清晰全面的认识，為(wèi)了优化复合绝缘子的生产工艺，提高其出厂质量，需要针对含内部缺陷的复合绝缘子的老化过程进行更多(duō)的研究。本文(wén)主要对含缺陷的复合绝缘子进行人工加速基金项目：國(guó)家自然科(kē)學(xué)基金资助项目(51150110477)老化试验，试验结果有(yǒu)助于我们理(lǐ)解含交界面缺陷复合绝缘子的老化过程。所采用(yòng)的试验方法也推荐成為(wèi)鉴定复合绝缘子交界面质量的补充手段。

一、试验样品

进行加速老化实验的短绝缘子在芯棒与护套交界面上含有(yǒu)不同类型的人造缺陷，缺陷尺寸见图1。人造缺陷主要包括以下类型：

(1)导通缺陷(铜片，厚0.2 m m，宽20 m m，長(cháng)40-60 I nm)。

(2)半导通缺陷(木(mù片，厚1 m m，宽20 m m，長(cháng)40～60 m m)。

(3)部分(fēn)區(qū)域粘结性丧失60 m i nx20 m m(長(cháng)×宽)。

(4)无缺陷(对照组)。加速老化试验所用(yòng)的電(diàn)极与水煮试验类似，電(diàn)极结构见图2。

二、试验方法

将短绝缘子样品加装電(diàn)极进行加速老化试验，接地電(diàn)极与1个高采样率的泄露電(diàn)流采集装置相连，以监控加压过程中的泄露電(diàn)流波形与局部放電(diàn)脉冲波形。整个加压装置安装在雾室中，室内的温度与相对湿度均可(kě)控在试验开始前，采用(yòng)下列方法之一对含人造缺陷绝缘子样品进行预处理(lǐ)：

1)使用(yòng)真空干燥箱在50℃下进行干燥；

2)不同时長(cháng)的水煮试验；

3)在50℃下对水煮后的样品重新(xīn)进行干燥。不同的预处理(lǐ)过程可(kě)以更好地帮助我们理(lǐ)解水分(fēn)侵入对于复合绝缘子老化机理(lǐ)以及泄露電(diàn)流的影响。為(wèi)了比较含不同缺陷的复合绝缘子的泄露電(diàn)流特征，对其施加逐步升高的试验電(diàn)压，初始试验電(diàn)压3kV，每次升压2kV，至33kV為(wèi)止。每次升压后，维持電(diàn)压不变持续至少1min。如果泄露電(diàn)流仍随时间变化，则继续保持電(diàn)压，直至泄露電(diàn)流稳定或者有(yǒu)闪络发生。在试验过程中．使用(yòng)红外相机(FLIR T330)观测样品的温度分(fēn)布情况。http://www.zhenghangsy.net